泰克推出双脉冲测试软件加快功率器件测试流程
泰克公司今天宣布为其AFG31000任意/函数发生器提供一个新的软件套件，该软件可在不到一分钟的时间内执行关键的双脉冲测试（Double Pulse Test），与其他方法相比，可节省大量时间。
借助新型的Double Pulse Test软件，工程师可以在一分钟内从AFG31000显示屏上的单个窗口中快速定义脉冲参数，然后生成执行测试所需的脉冲。该应用程序提供了脉冲宽度的阻抗调整以及每个脉冲之间的时间间隔（最多30个脉冲）。脉冲宽度范围为20 ns至150 µs。
泰克副总裁兼吉时利产品线经理Chris Bohn表示：“我们的AFG31000可轻松设置测试系统，快速更改参数并运行一系列测试程序，新的Double Pulse Test插件正体现出了这一特色。这对于电源工程师而言意味着生产力的极大提高，可以节省大量成本并缩短产品上市时间。”
电力和半导体行业的研究人员以及设计和测试工程师可以使用双脉冲测试来测量评估功率器件的开关参数和动态性能，包括多种宽带隙材料（例如碳化硅和氮化镓等）。
为了执行双脉冲测试，工程师需要精确地产生至少两个具有不同脉冲宽度和时序的电压脉冲，以触发MOSFET或IGBT功率器件，使用诸如Tektronix 5系列MSO的示波器进行测量。但是，对于当今的测试设备而言，生成这些脉冲一直是一项挑战，迫使研究人员和工程师使用PC或微控制器手动创建波形，这是一种耗时且容易出错的方法。
AFG31000重新定义了任意/函数发生器
去年推出的AFG31000重新定义了任意波/函数发生器，在同类产品中获得了业界首创，其中包括最大的触摸屏，新的用户界面，获得专利的InstaView™技术功能，该功能可自动检测并补偿阻抗匹配，可编程波形排序，以及新的ArbBuilder工具，可轻松创建和编辑任意波形。
AFG31000系列仪器具有9英寸触摸屏显示屏，提供1或2通道配置，并提供14位垂直分辨率以及250 MSa/s，1 GSa/s或2 GSa/s的采样率性能。
