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泰克S530参数测试系统问市,助力半导体制造商开拓新兴市场

发布时间:2020-10-26 15:25  浏览次数:55

泰克科技日前发布了全新Keithley S530系列参数测试系统,该系统搭载了KTE 7软件,提供更多增强功能。S530平台使半导体制造商为高速增长的新技术增加参数测试功能,同时最大程度地减少资本投入和提高每小时晶圆制造效率。这将降低整体拥有成本,帮助制造商在竞争激烈的新兴市场中应对巨大的价格压力。

泰克S530.png

基于新兴GaN和SiC宽禁带技术的新型半导体产品,有望实现更快的开关速度,更宽的温度范围,更好的功率效率,以及其他更多增强功能。为满足这些产品的测试需求,基于KTE 7的S530平台拥有实验室级测量性能,并且设置和测试时间最短。针对新应用的出现和需求的变化,可以实现高达1100V的全面灵活的高速配置。芯片制造商以最少的测试/设置时间,在单个系统上、以最少的投资,可以经济高效地扩展到高增长的功率和宽禁带器件中(包括汽车市场)。

“模拟和混合信号半导体制造商在5G通信、汽车、物联网、医疗、绿色能源等市场,不断受到新的最终用户应用的强劲需求。”吉时利/泰克公司副总裁兼总经理Chris Bohn说,“测试平台的这一重大升级,可以帮助这些客户更迅速、更经济地向市场上推出新产品,同时使他们能够适应未来的新要求。”

S530系列的创新技术在多种产品组合中最大化仪器的利用率,现有的测试软件、探头卡和其他项目可以简便实现升级换代,同时全面实现数据关联,明显改善速度。S530-HV能够在任何引脚上测试高达1100V的电压,与功率和宽禁带应用中的其他竞争系统相比,吞吐量可提升50%以上。芯片制造商可以使用单个系统测试多种产品组合,包括根据IATF-16949质量管理标准进行汽车产品测试,也可以通过泰克的服务机构进行校准,以提供全球范围内的优质人员支持。

基于KTE 7的平台为半导体制造商的传统S600和S400系统提供了最简便、最经济的演进道路,在保持全面数据关联的同时,与S600相比,吞吐量可以提高达25%。

功能明显增强,并创下多项业界第一

Ÿ   从低压(<200V)转移到高压(>200V)晶圆级测试时,S530-HV选配的Testhead省去了更换仪表、探针卡和线缆测试设置所需的操作员时间。通过Testhead测试头,探针卡可以兼容多家厂商的多种型号,从而可以更快地更换探针卡,并根据ISO-17025进行引脚校准,同时保持向后兼容性。这可以最大限度地降低演进成本,保护了用户投资,同时支持各种新的要求,比如IATF-16949汽车标准。

Ÿ   S530-HV可以在任何引脚上测试高达1100V的电压,其吞吐量在功率和宽禁带应用中较竞争系统提高50%以上。操作人员可以把任何测试资源以任何顺序连接到任何测试引脚,迅速简便地满足生产要求,而无需重新配置或重新装备信号路径。

Ÿ   KTE软件兼容能力大大简化并加快了例如从传统S600系统的演进道路,实现全面数据关联,吞吐量可提高达25%。

Ÿ   内置瞬态过压/过流保护防止意外损坏探针卡、探针和仪器,这在高速宽禁带应用中尤为关键。

Ÿ   在系统校准过程中,全新5880-SRU系统基准单元自动切换所有DC和AC参考标准,而无需手动连接或断开。这种全自动流程大大缩短了执行校准时的系统中断时间,降低了后续支持成本,进而降低了整体拥有成本。

供货情况

S530系列参数测试系统现已在全球范围内上市。